Muroga T., Shiohara Y., Kiuchi M., Yamada Y., Miyata S., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp), Ibi A., Kimura K.
Otabe E.S., Kiuchi M., Himeda Y., Matsushita T.(matusita@cse.kyutech.ac.jp)
Matsushita T., Kiuchi M., Himeda Y., Fujikami J., Hayashi K.(hayashi-kazuhiko@sei.co.jp)
Matsushita T., Otabe E.S., Kiuchi M.(kiuchi@cse.kyutech.ac.jp), Himeda Y., Fukumoto Y.
Matsushita T., Kiuchi M., Nadami T.(nadami@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Otabe E.S.(otabe@cse.kyutech.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, measurement technique, critical current density, critical caracteristics, width, harmonics impact
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Inoue M., Matsushita T., Kakimoto K., Otabe E.S., Kiuchi M., Fukumoto Y.(fukumoto@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Sawa H.
Matsushita T., Otabe E.S., Kiuchi M.(kiuchi@cse.kyutech.ac.jp), Kitaguchi H., Kumakura H., Okada M., Tanaka K., Yamauchi K., Kurokawa T.
Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Inoue M., Kuga T., Matsushita T., Kakimoto K., Otabe E.S., Yamauchi K.(yamauchi@aquarius10.cse.kyutech.ac.jp), Kiuchi M.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.